ㄅㄆㄇㄈ

最近发现了一个优秀的差分还原算法：hdiff & hpatch，它通过数据流的思想把 O(n) 的空间复杂度转嫁给了硬盘，使得内存的开销极低，非常适合应用于嵌入式领域。

全量升级由于要传输新版程序的完整镜像，因此升级时间通常较长，升级失败的概率也更大。那么能不能只传送差异数据呢？答案是可以。这种技术被称作增量升级/差量升级/差分升级。

常见的方案有：

• bsdiff/bspatch + quicklz
• hdifflite/hpatchlite + tinyuz

全量升级 & 增量升级

增量升级确实降低了传输过程中的数据量，但也带来了版本管理复杂的问题，所以说不能因为有了增量升级，全量升级就不用了。

以往我们做全量升级的时候没有引入压缩技术，在移植 hdiff/hpatchlite 的时候我发现，hdiff 生成的差异文件不比原文件小多少，但是其可压缩性非常高，这样就得把解压算法也移植进来。既然解压算法都已经有了，不把增量升级也压缩一下，那岂不是很浪费？

分散加载、中断向量表重定向

调整大小程序时要修改哪些配置？

➀ 修改 main.sct 分散加载文件。

➁ 修改 ConfigMCU 中大小程序的起始地址及空间大小。

➂ 修改 iap: system_mcumodel.c 中 VECT_TAB_OFFSET 的值（等于小程序的起始地址）。

➃ 修改 app: system_mcumodel.c 中 VECT_TAB_OFFSET 的值（等于大程序的起始地址）。

分散加载

- module_select_pattern
  - *
  - *.o
  - .ANY

- module_select_pattern (input_section_selector)
- module_select_pattern (input_section_selector, input_section_selector, ...)
  - +input_section_attr
    - * (+RO-CODE)
    - * (+RO-DATA)
    - * (+RO)
    - * (+RW-DATA)
    - * (+RW-CODE)
    - * (+RW)
    - * (+XO)
    - * (+ZI)
    - * (+ENTRY)
    -
    - * (+CODE)
    - * (+CONST)
    - * (+TEXT)
    - * (+DATA)
    - * (+BSS)
    -
    - * (+FIRST)
    - * (+LAST)
  - input_section_pattern
    - * (*app_info)
  - input_symbol_pattern
  - section_properties

flowchart TB
%%{init: { "flowchart": { "curve": "basis" } } }%%
A1(引导程序之流程)-->B1(......)-->C1(跳转至应用程序)
A2(应用程序之流程)-->B2(......)-->C2(跳转至引导程序)

flowchart LR
%%{init: { "flowchart": { "curve": "basis" } } }%%
A(在引导程序中集成通信协议栈与解压还原算法)~~~B(在应用程序中集成通信协议栈与解压还原算法)

flowchart LR
%%{init: { "flowchart": { "curve": "basis" } } }%%
A(先取下芯片)--->B(再烧录程序)--->C(后装回板卡)

flowchart LR
%%{init: { "flowchart": { "curve": "basis" } } }%%
A("在电路编程<br>(ＩＣＰ)")--->B("在系统编程<br>(ＩＳＰ)")--->C("在应用编程<br>(ＩＡＰ)")

嵌入式 IAP 升级功能（#01）基础概念
嵌入式 IAP 升级功能（#02）升级方案
嵌入式 IAP 升级功能（#03）流程设计
嵌入式 IAP 升级功能（#04）技术细节
嵌入式 IAP 升级功能（#05）增量升级
嵌入式 IAP 升级功能（#06）差分还原 hpatchlite 移植
嵌入式 IAP 升级功能（#07）压缩解压 tinyuztool 移植
嵌入式 IAP 升级功能（#08）引导程序 bootloader 升级

最近在使用电压比较器时发现硬件滤波电路会出现失效的情况，经分析是其采样频率过高所致。

参考手册中绘制的是理想条件下的波形，真实情况并非如此，INP 在逼近 INM 时会伴随着噪声/抖动。我们可以使用硬件滤波电路来消除这种抖动，图中绿色线段表示各采样点，其频率即为采样频率。

采样频率较低时，滤波电路可以正常工作，但是随着采样频率的升高，其可靠性反而会降低。

现象描述

• 从高速/超高速模式向超低速模式切换时 mcu 异常死机

基础信息

• 当前使用华大 2.2.0 版驱动程序
• 当前使用华大 1.2.1 版参考手册

原因分析

通过调试发现每次运行至 M4_SYSREG->PWR_PWRC2 赋值时程序就会跑飞😶

en_result_t PWC_HS2LS(void)
{
    ...

    M4_SYSREG->PWR_PWRC2 = 0xE1U;
    M4_SYSREG->PWR_MDSWCR = 0x10U;

    ...
}

en_result_t PWC_HP2LS(void)
{
    ...

    M4_SYSREG->PWR_PWRC2 = 0xD1U;
    M4_SYSREG->PWR_MDSWCR = 0x10U;

    ...
}

瞅了一眼《参考手册 Rev1.2.1》好像也没啥问题，又看了《参考手册 Rev1.3》后，我得发…🙄！

两版手册竟然不一样！

clock